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蔡司试题 蔡司一切成竹于胸 O--INSPECT复合式测量机

蔡司试题

蔡司试题是蔡司公司用于选拔和评估人才的重要工具。作为全球知名的光学和光电技术企业,蔡司对员工的专业能力和综合素质要求极高。这些试题通常涵盖光学原理、精密仪器操作、数学计算等多个领域,旨在全面考察应聘者的技术水平和解决问题的能力。通过蔡司试题的考核,公司能够筛选出最符合岗位要求的优秀人才。

蔡司试题的设计体现了公司对创新和卓越的追求。每道题目都经过精心设计,既考察基础知识,又测试实际应用能力。对于应聘者来说,准备蔡司试题需要扎实的专业功底和灵活的思维方式。成功通过蔡司试题考核的员工,往往能在公司获得良好的发展机会。这些试题不仅是选拔工具,更是蔡司保持技术领先地位的重要保障。

蔡司一切成竹于胸 O--INSPECT复合式测量机

蔡司一切成竹于胸 O--INSPECT复合式测量机

蔡司引领精密测量,O-INSPECT复合式测量机大放异彩

概览:随着医疗器械的微型化以及汽车制造业对精密零件的极致追求,尺寸精度达到几十微米的趋势日益显著。在柏林新兴的微生产技术应用中心(AMP),研究人员正致力于为众多行业客户提供微细零件与结构组件。蔡司提供的七台测量机在他们的研究中扮演了关键角色,展现出卓越的性能。

医疗器械和汽车零件的微型化趋势正在加速,AMP的研究人员正专注于为不同行业打造精密的微细零件。在AMP,蔡司的测量机成为研究的得力助手。在AMP,面对微米级尺寸的工件,研究人员面临着众多生产和测量的挑战。这反映出工业和科学领域正朝着更小尺寸的方向发展。因此,AMP于2024年底成立,旨在应对这一挑战。AMP隶属于柏林生产技术中心(PTZ),包括Forschungszentrum Aachen(IPK)生产系统及设计工艺学院和柏林工业大学机床与工厂管理学院。在AMP,大约20位科学家、3位技术人员和40名学生助理在一个严格控制的环境中工作,确保环境湿度稳定在45%-55%,温度波动不超过1摄氏度。即便是微小的温度波动也可能导致工件报废,因此精确控制至关重要。

在AMP,生产的极致追求体现在医疗技术、动力和驱动技术、汽车、航空航天、精密工程及工具制造和模具制造等多个行业中。在h.c. Eckardt Uhlmann博士的指导下,研究人员在AMP开发微小部件和结构,力求优化生产工艺。他们采用多种加工方法,从微钻工具加工到激光材料加工,再到精密硬质合金刀具的制造。所有这些项目都离不开可靠测量技术的支持,这是确保不同微细部件之间相互识别的关键。

AMP配备了五台坐标测量机、一台计算机断层扫描仪和六台显微镜,主要用于质量检验。这些设备中大多数来自蔡司,安装在超精密的实验室内。它们需要满足从几百纳米到毫米级别的工件尺寸,以及各种几何特征的测量需求。为了评估生产和测量潜力,AMP使用参考工件,如20微米大小的芯片,来检验其几何形状。

AMP在开业时购入了蔡司O-INSPECT复合式测量机和蔡司METROTOM 800计算机X射线断层扫描仪,这是经过严格评估后的明智选择。自那时起,研究人员已使用METROTOM检查了数百个受损的微型部件,并通过X射线生成三维模型,以蔡司CALYPSO测量软件与CAD模型对比。公差以不同颜色显示,直观易懂。目前,测量机已应用于传感器和医疗技术的开发,确保孔径精确至50微米以下。未来,在工具制造、模具制造和生物技术等领域,测量机的应用也将进一步扩展。

科学家们对所选测量机表示高度满意,Obe Schmidt博士表示:“X射线计算机断层扫描仪能够洞察部件内部,确保产品质量。”蔡司O-INSPECT复合式测量机因其操作简便、适合不断变化的工作任务而成为AMP的日常工作伙伴。该测量机具备接触式探头和光学探头两种类型,能够满足不同的测量需求。Obe Schmidt博士认为,复合式测量机技术是生产技术发展趋势的典范,它在一个系统中整合了多种方法。尽管将所有测量任务整合在一台机器中可能需要时间,但蔡司O-INSPECT为AMP提供了针对各种微型部件的广泛测量解决方案。对于Obe Schmidt博士来说,可靠的测量技术是微细产品生产的基石,他见证了机械工程技术在日常工作中取得的巨大进步。

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